您的位置：可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)
簡(jiǎn)要描述：
可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)是一種集成了高溫控制與X射線衍射分析功能的科研設(shè)備。適用于晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標(biāo)化和點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定、晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變的測(cè)定、薄膜物相的測(cè)定以及原位高溫結(jié)構(gòu)變化的動(dòng)態(tài)分析等。
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家- 更新時(shí)間：2024-11-29
- 訪 問(wèn) 量：450
詳情介紹
| 品牌 | 中科萬(wàn)垣 |
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一、產(chǎn)品概述：
可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)主要用于研究材料在高溫環(huán)境下的結(jié)構(gòu)變化與性能表現(xiàn)，適用于晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標(biāo)化和點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定、晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變的測(cè)定、薄膜物相的測(cè)定以及原位高溫結(jié)構(gòu)變化的動(dòng)態(tài)分析等。通過(guò)該設(shè)備，研究人員可以在不破壞樣品的情況下，直接觀察材料在高溫下的結(jié)構(gòu)演變，為材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域的研究提供有力支持。
二、裝置參數(shù)：
1.裝置包含溫控器，原位池腔體，加熱系統(tǒng)，上位機(jī)軟件，真空系統(tǒng)；
2. 裝置采用PID智能控制，USB信號(hào)傳輸，溫度曲線數(shù)據(jù)采集，可存儲(chǔ)，可調(diào)取;
3.可多點(diǎn)溫控校正，溫度可限設(shè)置，溫度可以多程序段設(shè)置；
4.溫度范圍常溫-1000℃，控溫精度小于0.3℃,升溫速率：80℃/min；
5.裝置采用電阻加熱，傳感器置于樣品下方，能直觀反映樣品真實(shí)溫度變化；
6.升溫臺(tái)直徑25mm, 窗采用半球型結(jié)構(gòu)，平面360°無(wú)遮擋采集，進(jìn)口PEEK材質(zhì)；
7.裝置采用O型圈密封，密封良好，可以抽真空，可充通反應(yīng)氣體；
8. 裝置采用航空鋁材質(zhì)，裝置外形110mm*80mm*50mm，凈重0.5Kg;
9.腔體冷卻方式：采用循環(huán)水冷卻;
10.裝置.操作簡(jiǎn)單，安裝方便，測(cè)試一致性好;；
11. 裝置廣泛應(yīng)用在各大主流衍射儀品牌上以及同步輻射，無(wú)需改裝儀器。
三、應(yīng)用領(lǐng)域：
可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域的研究中，特別是在研究材料在高溫下的結(jié)構(gòu)變化、性能表現(xiàn)以及反應(yīng)機(jī)理方面具有重要意義。
綜上所述，是一種功能強(qiáng)大、易于操作與維護(hù)的科研設(shè)備，為材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域的研究提供了有力支持。
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